DB52/T 1104-2016 半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法
标准详情：
DB52/T 1104-2016
地方标准-贵州省推荐性废止
- 中文名称：半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法
- CCS分类：L40
- ICS分类：31.080.01
- 发布日期：2016-04-01
- 实施日期：2016-10-01
- 代替标准：
- 行业分类：制造业，电子学
- 技术归口：
- 发布部门：贵州省质量技术监督局
- 标准分类：电子学制造业贵州省
内容简介
地方标准《半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法》，主管部门为贵州省质量技术监督局。
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