DB52/T 1104-2016 半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法

标准详情:

DB52/T 1104-2016

地方标准-贵州省推荐性
  • 中文名称:半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法
  • CCS分类:L40
    ICS分类:31.080.01
  • 发布日期:2016-04-01
    实施日期:2016-10-01
  • 代替标准:
    行业分类:制造业,电子学
  • 技术归口:
    发布部门:贵州省质量技术监督局
  • 标准分类:电子学制造业贵州省

内容简介


地方标准《半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法》,主管部门为贵州省质量技术监督局。

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