GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

内容简介

国家标准《半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法》由TC30（全国核仪器仪表标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要特性的测量方法。 本标准适用于半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪主要性能的测量。

起草单位

核工业标准化研究所、

起草人

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