GB/T 26074-2010 锗单晶电阻率直流四探针测量方法

标准详情：

GB/T 26074-2010

国家标准推荐性

中文名称：锗单晶电阻率直流四探针测量方法
CCS分类：H17
ICS分类：77.040.99
发布日期：2011-01-10
实施日期：2011-10-01
代替标准：
技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
发布部门：国家标准化管理委员会
标准分类：冶金金属材料试验金属材料的其他试验方法

内容简介

国家标准《锗单晶电阻率直流四探针测量方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了用直流四探针法测量锗单晶电阻率的方法。本标准适用于测量试样厚度和从试样边缘与任一探针端点的最近距离二者均大于探针间距的4倍锗单晶的电阻串以及测量直径大于探针间距的1O倍、厚度小于探针间距4倍锗单晶圆片(简称圆片)的电阻率。测量范围为1×10-3Ω·m～l×lO2Ω·cm。

起草单位

南京中锗科技股份有限公司、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、北京国晶辉红外光学科技有限公司、

起草人

张莉萍、焦欣文、王学武、普世坤、

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