GB/T 14849.5-2014 工业硅化学分析方法第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法

标准详情：

GB/T 14849.5-2014

国家标准推荐性

中文名称：工业硅化学分析方法第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法
CCS分类：H12
ICS分类：77.120.10
发布日期：2014-12-05
实施日期：2015-05-01
代替标准：代替GB/T 14849.5-2010
技术归口：全国有色金属标准化技术委员会
发布部门：中国有色金属工业协会
标准分类：冶金有色金属铝和铝合金

内容简介

国家标准《工业硅化学分析方法第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法》由TC243（全国有色金属标准化技术委员会）归口，TC243SC1（全国有色金属标准化技术委员会轻金属分会）执行，主管部门为中国有色金属工业协会。
GB/T 14849的本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定方法。本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定，测定范围见表1。

起草单位

昆明冶金研究院、云南永昌硅业股份有限公司、通标标准技术服务有限公司、蓝星硅材料有限公司、云南出入境检验检疫局、中国铝业股份有限公司山东分公司、中国铝业股份有限公司郑州研究院、包头铝业有限公司、昆明冶研新材料股份有限公司、

起草人

刘英波、赵德平、杨毅、杨海岸、周杰、

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