GB/T 33763-2017 蓝宝石单晶位错密度测量方法

标准详情:

GB/T 33763-2017

国家标准推荐性
  • 中文名称:蓝宝石单晶位错密度测量方法
  • CCS分类:H25
    ICS分类:77.040
  • 发布日期:2017-05-31
    实施日期:2017-12-01
  • 代替标准:
  • 技术归口:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
    发布部门:国家标准化管理委员会
  • 标准分类:冶金金属材料试验

内容简介

国家标准《蓝宝石单晶位错密度测量方法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了蓝宝石单晶位错密度的测量方法。本标准适用于抛光加工后位错密度为0个/cm2~100000个/cm2的蓝宝石单晶位错密度的测量,检测面为{0001)、{1120)、{1012)、{1010}面。

起草单位

江苏协鑫软控设备科技发展有限公司、深圳市中安测标准技术有限公司、中国科学院上海光学精密机械研究所、

起草人

薛抗美、黄修康、田野、张永波、杭寅、尹继刚、张毅、

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