GB/T 23413-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法

标准详情：

GB/T 23413-2009

国家标准推荐性

中文名称：纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法
CCS分类：N78
ICS分类：19.100
发布日期：2009-04-01
实施日期：2009-12-01
代替标准：
技术归口：全国微束分析标准化技术委员会
发布部门：国家标准化管理委员会
标准分类：试验无损检测

内容简介

国家标准《纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了利用X射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100 nm，微观应变一般不大于0.1%的纳米材料。

起草单位

钢铁研究总院、首钢技术研究院、

起草人

方建锋、郑毅、李琪、

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