GB/Z 21738-2008 一维纳米材料的基本结构 高分辨透射电子显微镜检测方法
标准详情:
GB/Z 21738-2008
国家标准指导性技术文件现行
- 中文名称:一维纳米材料的基本结构 高分辨透射电子显微镜检测方法
- CCS分类:N30
- ICS分类:17.180.01
- 发布日期:2008-05-08
- 实施日期:2008-11-01
- 代替标准:
- 技术归口:全国纳米技术标准化技术委员会
- 发布部门:中国科学院
- 标准分类:计量学和测量、物理现象光学和光学测量光学和光学测量综合
内容简介
国家标准《一维纳米材料的基本结构 高分辨透射电子显微镜检测方法》由TC279(全国纳米技术标准化技术委员会)归口,TC279SC1(全国纳米技术标准化技术委员会纳米材料分会)执行,主管部门为中国科学院。
本指导性技术文件规定了采用高分辨透射电子显微镜检测纳米材料中一维或准一维纳米材料的原理,术语和定义,仪器和设备,样品制备,测量程序,结果表示以及试验报告等。本指导性技术文件适用于测量一维或准一维纳米材料的基本结构,元素组分,截面及界面原子排布等。
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