GB/T 26332.4-2015 光学和光子学光学薄膜第4部分：规定的试验方法

标准详情：

GB/T 26332.4-2015

国家标准推荐性

中文名称：光学和光子学光学薄膜第4部分：规定的试验方法
CCS分类：N30
ICS分类：17.180
发布日期：2015-12-10
实施日期：2016-07-01
代替标准：
技术归口：中国机械工业联合会
发布部门：中国机械工业联合会
标准分类：计量学和测量、物理现象光学和光学测量

内容简介

国家标准《光学和光子学光学薄膜第4部分：规定的试验方法》由604-1（中国机械工业联合会）归口，主管部门为中国机械工业联合会。
GB/T26332规定了在光学元器件及基片表面镀制的光学薄膜的应用功能分类、技术指标的标准表述形式、常规特性及试验测量方法,但不拟用于规定镀制方法。本部分规定了在GB/T 26332.3中提到的光学薄膜环境适应性试验方法,这些方法在GB/T12085—2010标准中没有描述。这些方法通常与 GB/T26332.3—2015附录 A 中的测试方法组成试验序列共同使用。本部分不适用于眼科光学(眼镜)的光学薄膜。

起草单位

沈阳仪表科学研究院有限公司、浙江大学、沈阳汇博光学公司、国家仪器仪表元器件质量监督检验中心、同济大学、大连化学物理研究所、杭州科汀光学技术有限公司、

起草人

王瑞生、费书国、程鑫彬、赵帅锋、阴晓俊、王占山、

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