GB/T 15879.604-2023 半导体器件的机械标准化 第6-4部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 焊球阵列(BGA)
标准详情:
GB/T 15879.604-2023
国家标准推荐性现行
- 中文名称:半导体器件的机械标准化 第6-4部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 焊球阵列(BGA)封装的尺寸测量方法
- CCS分类:L55
- ICS分类:31.200
- 发布日期:2023-05-23
- 实施日期:2023-09-01
- 代替标准:
- 技术归口:全国集成电路标准化技术委员会
- 发布部门:工业和信息化部(电子)
- 标准分类:电子学集成电路、微电子学
内容简介
国家标准《半导体器件的机械标准化 第6-4部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 焊球阵列(BGA)封装的尺寸测量方法》由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
本文件规定了焊球阵列(BGA)封装的尺寸测量方法。本文件规定的测量方法,在符合下述约定条件下,为用户提供尺寸保证:a) 测量一般采用手工或自动方式进行;b) 如果某个尺寸不易直接测量,则最佳的替代测量方法将被确定为首选方法。
起草单位
中国电子技术标准化研究院、深圳市斯迈得半导体有限公司、锐杰微科技(郑州)有限公司、奥士康精密电路(惠州)有限公司、
相近标准
20231784-T-339 半导体器件的机械标准化 第6-18部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 焊球阵列封装(BGA)的设计指南
20230650-T-339 半导体器件的机械标准化 第6-21部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 小外形封装(SOP)尺寸测量方法
20231783-T-339 半导体器件的机械标准化 第6-3部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 四边扁平封装(QFP)的尺寸测量方法
20210841-T-339 半导体器件机械标准化 第6-12部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则密节距焊盘阵列封装(FLGA)的设计指南
20230648-T-339 半导体器件的机械标准化 第6-17部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 叠层封装设计指南-密节距焊球阵列封装(FBGA)和密节距焊盘阵列封装(FLGA)
20240784-T-339 半导体器件的机械标准化 第6-16部分:焊球阵列封装(BGA)、焊盘阵列封装(LGA)、密节距焊球阵列封装(FBGA)和密节距焊盘阵列封装(FLGA)的半导体试验和老化插座术语表
20231789-T-339 半导体器件的机械标准化 第6-20部分:表面安装半导体器件封装外形图绘制的一般规则 小外形J形引线封装(SOJ)尺寸测量方法
20240783-T-339 半导体器件的机械标准化 第6-13部分:密节距焊球阵列封装(FBGA)和密节距焊盘阵列封装(FLGA)顶部开放式插座的设计指南
GB/T 15879.4-2019 半导体器件的机械标准化 第4部分:半导体器件封装外形的分类和编码体系
20230649-T-339 半导体器件的机械标准化 第6-19部分:高温下封装翘曲度的测量方法和最大允许翘曲度
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。
- 标准质量:
下载说明
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
② 仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。