GB/T 42839-2023 半导体集成电路 模拟数字(AD)转换器

标准详情:

GB/T 42839-2023

国家标准推荐性
  • 中文名称:半导体集成电路 模拟数字(AD)转换器
  • CCS分类:L56
    ICS分类:31.200
  • 发布日期:2023-08-06
    实施日期:2023-12-01
  • 代替标准:
  • 技术归口:全国集成电路标准化技术委员会
    发布部门:工业和信息化部(电子)
  • 标准分类:电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体集成电路 模拟数字(AD)转换器》由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
本文件规定了模拟数字(AD)转换器(以下简称AD转换器或ADC)的分类、技术要求、检验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本文件适用于采用半导体集成电路T.艺设计制造的AD转换器。

起草单位

中国电子技术标准化研究院、成都华微电子科技股份有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、四川翊晟芯科信息技术有限公司、中国科学院半导体研究所、惠阳东亚电子制品有限公司、杭州电子科技大学、成都振芯科技股份公司、中国电子科技集团公司第二十四研究所、北京芯可鉴科技有限公司、广东伟照业光电节能有限公司、杭州万高科技股份有限公司、

起草人

李锟、 邢浩、 王会影、 张涛、 钟明琛、 李文昌、 林玲、 隋春娟、 张驰、李大刚、雷郎成、谢红建、董鸿亮、王永军、

相近标准

GB/T 42973-2023 半导体集成电路 数字模拟(DA)转换器
GB/T 18500.2-2001 半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第二篇:线性模拟/数字转换器(ADC)空白详细规范
GB/T 18500.1-2001 半导体器件 集成电路 第4部分:接口集成电路 第一篇:线性数字/模拟转换器(DAC)空白详细规范
SJ/T 10252-1991 半导体集成电路CB7660型CMOS电源电压转换器详细规范
SJ/T 10804-2000 半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理
GB/T 35006-2018 半导体集成电路 电平转换器测试方法
GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路
SJ/T 10254-1991 半导体集成电路CB301型CMOS模拟开关详细规范
SJ/T 10250-1991 半导体集成电路CB565型模拟锁相环详细规范
GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

「在线纠错」

「相关推荐」