GB/T 42848-2023 半导体集成电路直接数字频率合成器测试方法

标准详情：

GB/T 42848-2023

国家标准推荐性

中文名称：半导体集成电路直接数字频率合成器测试方法
CCS分类：L56
ICS分类：31.200
发布日期：2023-08-06
实施日期：2023-12-01
代替标准：
技术归口：全国集成电路标准化技术委员会
发布部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体集成电路直接数字频率合成器测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本文件规定了半导体集成电路中直接数字频率合成器（以下简称“器件”）电特性的通用测试方法。本文件适用于单通道及多通道直接数字频率合成器电路的测试。

起草单位

成都振芯科技股份有限公司、中国电子技术标准化研究院、

起草人

何善亮、蒲佳、范超、吴淼、杨阳、刘纪祖、王可、李锟、

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