GB/T 42744-2023 微波电路 电调衰减器测试方法

标准详情:

GB/T 42744-2023

国家标准推荐性
  • 中文名称:微波电路 电调衰减器测试方法
  • CCS分类:L56
    ICS分类:31.200
  • 发布日期:2023-08-06
    实施日期:2024-03-01
  • 代替标准:
  • 技术归口:全国集成电路标准化技术委员会
    发布部门:工业和信息化部(电子)
  • 标准分类:电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《微波电路 电调衰减器测试方法》由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
本文件描述了微波电路类的电调衰减器主要电参数的测试方法。本文件适用于单片和混合集成的微波电调衰减器(以下简称衰减器)的相关电参数测试。

起草单位

成都亚光电子股份有限公司、安徽省中智科标准化研究院有限公司、中国电子技术标准化研究院、安徽明洋电子有限公司、空军装备部驻成都地区军事代表局、

起草人

隆慧、 杨晓瑜、 汤朔、 周俊、 范富宏、 刘峋、 侯林、 刘影影、陈敏、孟泽、何亚平、王昊、付江蔚、

相近标准

20240036-T-339 半导体器件 第16-7部分:微波集成电路 衰减器
20182280-T-339 微波电路 限幅器测试方法
GB/T 35002-2018 微波电路 频率源测试方法
GB/T 42972-2023 微波电路 检波器测试方法
GB/T 35001-2018 微波电路 噪声源测试方法
GB/T 35011-2018 微波电路 压控振荡器测试方法
YD/T 3682-2020 电调天线接口测试方法
20192058-T-339 微波混合集成电路 合成频率源
SJ/T 2406-2018 微波电路型号命名方法
GY/T 104-1991 广播电视微波电路维护管理规程

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

「在线纠错」

「相关推荐」