GB/T 42975-2023 半导体集成电路 驱动器测试方法

标准详情:

GB/T 42975-2023

国家标准推荐性
  • 中文名称:半导体集成电路 驱动器测试方法
  • CCS分类:L56
    ICS分类:31.200
  • 发布日期:2023-09-07
    实施日期:2024-01-01
  • 代替标准:
  • 技术归口:全国集成电路标准化技术委员会
    发布部门:工业和信息化部(电子)
  • 标准分类:电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体集成电路 驱动器测试方法》由TC599(全国集成电路标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
本文件规定了半导体集成电路驱动器(以下简称器件)的电特性测试方法的基本原理和测试程序。本文件适用于74/54系列驱动器、总线驱动器、PIN开关驱动器、达林顿驱动器、时钟驱动器、 LVDS驱动器、MOSFET驱动器和差分驱动器等各种半导体工艺制造的驱动器的电性能测试。其他类 别驱动器的测试参考使用。

起草单位

中国电子技术标准化研究院、安徽大华半导体科技有限公司、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、中国电子科技集团公司第二十四研究所、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国电子科技集团公司第五十八研究所、成都振芯科技股份有限公司、

起草人

刘芳、 周俊、 刘凡、 霍玉柱、 梁希、 王会影、 杨晓强、纵雷、林瑜攀、陆坚、

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