GB/T 42969-2023 元器件位移损伤试验方法

标准详情：

GB/T 42969-2023

国家标准推荐性

中文名称：元器件位移损伤试验方法
CCS分类：L56
ICS分类：31.200
发布日期：2023-09-07
实施日期：2024-01-01
代替标准：
技术归口：全国集成电路标准化技术委员会
发布部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《元器件位移损伤试验方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本文件描述了元器件位移损伤的试验方法。本文件适用于光电集成电路和分立器件，如电荷耦合器件（CCD)、光电A合器、图像敏感器（APS)，光敏管等，用质子、中子进行位移损伤辐照试验。其他元器件的位移损伤辐照试验参照进行。

起草单位

中国空间技术研究院、西北核技术研究院、中国科学院新疆理化技术研究所、中国工程物理研究院核物理与化学研究所、中国电子科技集团公司第四十四研究所、扬州大学、

起草人

罗磊、于庆奎、张洪伟、郑春、汪朝敏、李豫东、唐民、朱恒静、陈伟、丁李利、文林、薛玉雄、

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