GB/T 43035-2023 半导体器件集成电路第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范第一篇：内部目检要求

标准详情：

GB/T 43035-2023

国家标准推荐性

中文名称：半导体器件集成电路第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范第一篇：内部目检要求
CCS分类：L57
ICS分类：31.200
发布日期：2023-09-07
实施日期：2023-09-07
代替标准：
技术归口：全国集成电路标准化技术委员会
发布部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体器件集成电路第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范第一篇：内部目检要求》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本文件的目的是检查膜集成电路和混合膜集成电路（FICs和HFICs，以下简称器件）内部的材料、结构和制造工艺。通常在封帽或包封前进行该项检验，从而找出并剔除带有内部缺陷的器件。这种缺陷会导致器件在正常应用中失效。其他的验收准则应与购买商或供应商商定。

起草单位

中国电子科技集团公司第四十三研究所、中国电子技术标准化研究院、

起草人

王婷婷、呂红杰、李林森、雷剑、冯玲玲、王琪、张亚娟、

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