GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法

标准详情：

GB/T 43226-2023

国家标准推荐性

中文名称：宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
CCS分类：V25
ICS分类：49.140
发布日期：2023-09-07
实施日期：2024-01-01
代替标准：
技术归口：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会
发布部门：国家标准化管理委员会
标准分类：航空器和航天器工程航天系统和操作装置

内容简介

国家标准《宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法》由TC425（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会）归口，TC425SC2（全国宇航技术及其应用标准化技术委员会宇航电子分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
本文件规定了宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试的原理、环境条件、仪器设备、试验样品、试验步骤、试验报告。本文件适用于宇航用半导体集成电路单粒子软错误的测试。

起草单位

北京微电子技术研究所、中国航天电子技术研究院、

起草人

赵元富、陈雷、郑宏超、李哲、陈淼、王汉宁、王亮、岳素格、林建京、李永峰、

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