GB/T 22586-2018 电子学特性测量超导体在微波频率下的表面电阻

标准详情：

GB/T 22586-2018

国家标准推荐性

中文名称：电子学特性测量超导体在微波频率下的表面电阻
CCS分类：H21
ICS分类：77.040.99
发布日期：2018-03-15
实施日期：2018-10-01
代替标准：代替GB/T 22586-2008
技术归口：全国超导标准化技术委员会
发布部门：中国科学院
标准分类：冶金金属材料试验金属材料的其他试验方法

内容简介

国家标准《电子学特性测量超导体在微波频率下的表面电阻》由TC265（全国超导标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。
本标准规定了在微波频率下利用双谐振器法测试超导体表面电阻的方法，测试目标是在谐振频率下RS随温度的变化。改进型镜像介质谐振器法，作为另外一种可选用的方法，在附录B中给出。本标准适用于表面电阻的测试范围如下：——频率：8GHz＜f＜30GHz——测试分辨率：0.01mΩ(f=10GHz)。测试报告给出在测试频率下的表面电阻值，并且给出利用Rs∝f2的关系折合到10GHz的值。

起草单位

电子科技大学、南京大学、清华大学、中国科学院物理研究所、

起草人

曾成、罗正祥、吉争鸣、孙亮、补世荣、魏斌、

相近标准

YY/T 1088-2007 在0.5MHz至15MHz频率范围内采用水听器测量与表征医用超声设备声场特性的导则
GB/T 16540-1996 声学在0.5～15 MHz频率范围内的超声场特性及其测量水听器法
20220438-T-491 临界电流测量 REBCO复合超导体的直流临界电流测量
GB/T 39843-2021 电子学特性测量大面积超导膜的局域临界电流密度及其分布
20184237-T-339 软磁材料制成的磁心测量方法第2部分：低励磁水平下的磁特性
20184239-T-339 软磁材料制成的磁心测量方法第3部分：高励磁水平下的磁特性
GB/T 9633-2012 微波频率应用的旋磁材料性能测量方法
20192058-T-339 微波混合集成电路合成频率源
GB/T 30537-2014 超导电性块状高温超导体的测量大晶粒氧化物超导体的俘获磁通密度
GB/T 31838.3-2019 固体绝缘材料介电和电阻特性第3部分：电阻特性(DC方法) 表面电阻和表面电阻率

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

本地下载

纠错