GB/T 4377-2018 半导体集成电路 电压调整器测试方法
标准详情:
- 中文名称:半导体集成电路 电压调整器测试方法
- CCS分类:L56
- ICS分类:31.200
- 发布日期:2018-03-15
- 实施日期:2018-08-01
- 代替标准:代替GB/T 4377-1996
- 技术归口:全国半导体器件标准化技术委员会
- 发布部门:工业和信息化部(电子)
- 标准分类:电子学集成电路、微电子学
内容简介
国家标准《半导体集成电路 电压调整器测试方法》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口,TC78SC2(全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会)执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。
本标准规定了电压调整器(以下称为器件)参数测试方法。本标准适用于半导体集成电路领域中电压调整器参数的测试。
起草单位
圣邦微电子(北京)股份有限公司、成都振芯科技股份有限公司、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、北京宇翔电子有限公司、
起草人
王鸿儒、袁莹莹、张宝华、张冰、邹臣、朱华、陈志培、罗彬、
相近标准
GB/T 4376-1994 半导体集成电路 电压调整器系列和品种
SJ/T 10805-2018 半导体集成电路 电压比较器测试方法
SJ/T 10805-2000 半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
GB/T 14114-1993 半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理
20192068-T-339 半导体集成电路 驱动器测试方法
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。
- 标准质量:
下载说明
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
② 仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。