GB/T 35003-2018 非易失性存储器耐久和数据保持试验方法

标准详情：

GB/T 35003-2018

国家标准推荐性

中文名称：非易失性存储器耐久和数据保持试验方法
CCS分类：L56
ICS分类：31.200
发布日期：2018-03-15
实施日期：2018-08-01
代替标准：
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
发布部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《非易失性存储器耐久和数据保持试验方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，TC78SC2（全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会）执行，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准规定了非易失性存储器耐久和数据保持试验的方法。本标准适用于电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪存储器(Flash)以及内嵌上述存储器的集成电路(以下简称器件)。

起草单位

中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第五十八研究所、深圳市国微电子有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、北京兆易创新科技股份有限公司、成都华微电子科技有限公司、

起草人

罗晓羽、董艺、刘妙、谢休华、郭晓宇、高硕、

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