GB/T 35005-2018 集成电路倒装焊试验方法
标准详情:
GB/T 35005-2018
国家标准推荐性现行
- 中文名称:集成电路倒装焊试验方法
- CCS分类:L55
- ICS分类:31.200
- 发布日期:2018-03-15
- 实施日期:2018-08-01
- 代替标准:
- 技术归口:全国半导体器件标准化技术委员会
- 发布部门:工业和信息化部(电子)
- 标准分类:电子学集成电路、微电子学
内容简介
国家标准《集成电路倒装焊试验方法》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口,TC78SC2(全国半导体器件标准化技术委员会半导体集成电路分会)执行,主管部门为工业和信息化部(电子)。
本标准规定了倒装焊集成电路封装工艺中凸点共面性、凸点剪切力、芯片剪切拉脱力、焊点缺陷、底部填充缺陷等方面相关的物理试验方法。本标准适用于陶瓷封装或塑料封装的倒装焊单片集成电路。
起草单位
中国航天科技集团公司第九研究院第七七二所、
起草人
林鹏荣、谢东、文惠东、吕晓瑞、林建京、何卫、黄颖卓、姜学明、姚全斌、练滨浩、高硕、张威、
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