GB/T 13062-2018 半导体器件集成电路第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)

标准详情：

GB/T 13062-2018

国家标准推荐性

中文名称：半导体器件集成电路第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)
CCS分类：L57
ICS分类：31.200
发布日期：2018-12-28
实施日期：2019-07-01
代替标准：代替GB/T 13062-1991
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
发布部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体器件集成电路第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。

起草单位

中国电子科技集团公司第四十三研究所、中国电子技术标准化研究院、

起草人

冯玲玲、陈裕焜、王婷婷、管松林、雷剑、王琪、

相近标准

GB/T 16466-1996 膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用能力批准程序)
GB/T 11498-2018 半导体器件集成电路第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)
GB/T 16465-1996 膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用能力批准程序)
20193132-T-339 半导体器件集成电路第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范第一篇：内部目检要求
GB/T 8976-1996 膜集成电路和混合膜集成电路总规范
GB/T 12842-1991 膜集成电路和混合膜集成电路术语
GB/T 17574.10-2003 半导体器件集成电路第2-10部分:数字集成电路集成电路动态读/写存储器空白详细规范
GB/T 15138-1994 膜集成电路和混合集成电路外形尺寸
GB/T 9424-1998 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第五篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范
GB/T 5965-2000 半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路第一篇双极型单片数字集成电路门电路(不包括自由逻辑阵列) 空白详细规范

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

本地下载

纠错