GB/T 36655-2018 电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法

标准详情：

GB/T 36655-2018

国家标准推荐性

中文名称：电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法
CCS分类：L90
ICS分类：31.030
发布日期：2018-09-17
实施日期：2019-01-01
代替标准：
技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
发布部门：国家标准化管理委员会
标准分类：电子学电子技术专用材料

内容简介

国家标准《电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC3（全国半导体设备和材料标准化技术委员会封装分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的XRD测试方法。本标准适用于电子封装用球形二氧化硅微粉中检测α态晶体二氧化硅含量，其他无定形二氧化硅含量的检测也可参照本标准执行。α态晶体二氧化硅含量测试范围0.5％以下半定量分析，0.5%～5%定量分析。

起草单位

国家硅材料深加工产品质量监督检验中心、汉高华威电子有限公司、江苏联瑞新材料股份有限公司、

起草人

封丽娟、李冰、曹家凯、吕福发、陈进、夏永生、阮建军、王松宪、

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