GB/T 14077-1993 双折射晶体和偏振器件测试规范
标准详情:
GB/T 14077-1993
国家标准推荐性现行
- 中文名称:双折射晶体和偏振器件测试规范
- CCS分类:N05
- ICS分类:17.180.20
- 发布日期:1993-02-06
- 实施日期:1993-08-01
- 代替标准:
- 技术归口:工业和信息化部(电子)
- 发布部门:工业和信息化部(电子)
- 标准分类:计量学和测量、物理现象光学和光学测量颜色和光的测量
内容简介
国家标准《双折射晶体和偏振器件测试规范》由339-1(工业和信息化部(电子))归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
本标准规定了双折射晶体和透射型偏振器件在0.25~1.7μm光谱区内主要光学参数的测试方法。 本标准适用于光学、光电子学和激光技术中对双折射晶体的光谱透射曲线和均匀性的测试,以及对偏振器件的消光比、偏离角和光辐射损伤阈值的测试。
相近标准
JB/T 9495.4-1999 光学晶体应力双折射测量方法
20230072-T-604 激光器和激光相关设备 激光束参数测试方法 偏振
20200761-T-339 半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管
GB/T 18311.2-2001 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-2部分:检查和测量 单模纤维光学器件偏振依赖性
20064065-T-339 半导体器件 第7部分:双极型晶体管
GB/T 7576-1998 半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管 第四篇 高频放大管壳额定双极型晶体管空白详细规范
20151494-T-339 纤维光学互连器件和无源器件-基本试验和测量程序 第2-23部分:试验—非加压式纤维光学器件接头盒密封测试
GB/T 21039.1-2007 半导体器件 分立器件 第4-1部分:微波二极管和晶体管 微波场效应晶体管空白详细规范
GB/T 6352-1998 半导体器件 分立器件 第6部分:闸流晶体管 第一篇 100A以下环境或管壳额定反向阻断三极闸流晶体管空白详细规范
GB/T 6590-1998 半导体器件 分立器件 第6部分:闸流晶体管 第二篇 100A以下环境或管壳额定的双向三极闸流晶体管空白详细规范
* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。
- 标准质量:
下载说明
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准,期待。
② 仅供网友学习交流,若侵犯了您的权益,请联系我们予以删除。