GB/T 14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

标准详情：

GB/T 14030-1992

国家标准推荐性

中文名称：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
CCS分类：L55
ICS分类：31.200
发布日期：1992-12-17
实施日期：1993-08-01
代替标准：
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
发布部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准规定了半导体集成电路时基电路（以下简称器件或时基电路）电参数测试方法的基本原理

起草单位

上海元件五厂、

起草人

相近标准

SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理
SJ/T 10805-2000 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
SJ/T 10804-2000 半导体集成电路电平转换器测试方法的基本原理
SJ/T 10427.1-1993 半导体集成电路音响电路调频变频器测试方法的基本原理
GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
SJ/T 10427.2-1993 半导体集成电路音响电路中频放大器测试方法的基本原理
GB/T 14031-1992 半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理
GB/T 14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
SJ/T 10249-1991 半导体集成电路CB555型时基电路详细规范

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

本地下载

纠错