GB/T 15653-1995 金属氧化物半导体气敏元件测试方法

内容简介

国家标准《金属氧化物半导体气敏元件测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准规定了金属氧化物半导体气敏元件（以下简称元件）性能参数测试方法的基本原理，没有规定这些方法在实际使用时的技术细节，测试时可按相应的详细规范的规定进行。 本标准适用于金属氧化物半导体气敏元件性能参数的测试，其他气敏元件亦可参照使用。

起草单位

电子工业部标准化研究所、

起草人

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