GB/T 14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理

标准详情:

GB/T 14115-1993

国家标准推荐性
  • 中文名称:半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
  • CCS分类:L56
    ICS分类:31.200
  • 发布日期:1993-01-21
    实施日期:1993-08-01
  • 代替标准:
  • 技术归口:全国半导体器件标准化技术委员会
    发布部门:工业和信息化部(电子)
  • 标准分类:电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理》由TC78(全国半导体器件标准化技术委员会)归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
本标准规定了半导体集成电路采样/保持放大器(以下简称器件)电参数测试方法的基本原理。 本标准适用于半导体集成电路采样/保持放大器的电参数测试。

起草单位

上海元件五厂、

起草人

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