GB/T 16465-1996 膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用能力批准程序)

标准详情：

GB/T 16465-1996

国家标准推荐性

中文名称：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用能力批准程序)
CCS分类：L55
ICS分类：31.200
发布日期：1996-07-09
实施日期：1997-01-01
代替标准：
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
发布部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用能力批准程序)》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本规范适用于采用能力批准程序评定质量的膜集成电路和混合膜集成电路，包括产品目录上的电路和定制电路。

起草单位

电子部标准化研究所、

起草人

相近标准

GB/T 16466-1996 膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用能力批准程序)
GB/T 11498-2018 半导体器件集成电路第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)
GB/T 13062-2018 半导体器件集成电路第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)
GB/T 8976-1996 膜集成电路和混合膜集成电路总规范
20193132-T-339 半导体器件集成电路第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范第一篇：内部目检要求
GB/T 12842-1991 膜集成电路和混合膜集成电路术语
GB/T 15138-1994 膜集成电路和混合集成电路外形尺寸
GB/T 15882-1995 电子设备用膜固定电阻网络第2部分:按能力批准程序评定质量的膜电阻网络分规范
GB/T 15883-1995 电子设备用膜固定电阻网络第2部分:按能力批准程序评定质量的膜电阻网络空白详细规范评定水平E
20221439-T-469 宇航用集成电路内引线气相沉积保护膜试验方法

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

本地下载

纠错