GB/T 38532-2020 微束分析电子背散射衍射平均晶粒尺寸的测定

标准详情：

GB/T 38532-2020

国家标准推荐性

中文名称：微束分析电子背散射衍射平均晶粒尺寸的测定
CCS分类：G04
ICS分类：71.040.40
发布日期：2020-03-06
实施日期：2021-02-01
代替标准：
技术归口：全国微束分析标准化技术委员会
发布部门：国家标准化管理委员会
标准分类：化工技术分析化学化学分析

内容简介

国家标准《微束分析电子背散射衍射平均晶粒尺寸的测定》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了用电子背散射衍射法（EBSD）对抛光截面进行平均晶粒尺寸的测定方法，包含与晶体试样中的位置相关的取向、取向差和花样质量因子的测量要求。注1：使用光学显微镜测定晶粒尺寸已为大家普遍接受，与其相比，EBSD具有很多技术优势，如高的空间分辨率和晶粒取向的定量描述等。注2：该方法还可用于一些复杂材料（如双相材料）的晶粒尺寸测量。注3：对变形程度较大的试样进行分析时，需谨慎处理结果。

起草单位

中国宝武钢铁集团有限公司、中国科学院上海硅酸盐研究所、上海发电设备成套设计研究院、

起草人

姚雷、张作贵、曾毅、郑芳、

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