GB/T 17421.10-2021 机床检验通则第10部分：数控机床探测系统测量性能的测定

标准详情：

GB/T 17421.10-2021

国家标准推荐性

中文名称：机床检验通则第10部分：数控机床探测系统测量性能的测定
CCS分类：J50
ICS分类：25.040.20
发布日期：2021-03-09
实施日期：2021-10-01
代替标准：
技术归口：全国金属切削机床标准化技术委员会
发布部门：中国机械工业联合会
标准分类：机械制造工业自动化系统数控机床

内容简介

国家标准《机床检验通则第10部分：数控机床探测系统测量性能的测定》由TC22（全国金属切削机床标准化技术委员会）归口，主管部门为中国机械工业联合会。
GB/T17421的本部分规定了与数控机床装配成一体的接触式探测系统（离散点探测模式）测量性能评估的检测程序。本部分不含其他型式的探测系统，如那些用于扫描模式或非接触式的探测系统。用于坐标测量机的机床性能评估也不在本部分范围内，这些性能涉及跟踪能力的问题，明显受机床几何精度影响。本部分规定的机床探测系统检测还可按GB/T16857.2和GB/T16857.5测定。数控机床的接触式探测系统在加工过程中应用如下：——加工前检查工件是否正确安装；——工件的定位和／或校准；——加工后，工件仍在机床上对其进行测量；——机床旋转轴线的定位和定向测量；——切削刀具的设定和测量（刀具半径、长度和偏移）；——刀具磨损的测定。注1：本部分主要针对加工中心而言，对于其他类型的机床，如车削和磨削中心，会在本部分以后的版本中涉及。注2：本部分不涉及非接触测量（例如：光学测头），但是会在本部分以后的版本中涉及。

起草单位

沈阳机床（集团）有限责任公司、沈机集团昆明机床股份有限公司、国家机床质量监督检验中心、北京工业大学、

起草人

李军、张维、何春树、黄祖广、陈妍言、曹文智、刘志峰、李书林、

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