GB/T 20724-2021 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
标准详情:
GB/T 20724-2021
国家标准推荐性现行
- 中文名称:微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
- CCS分类:N53
- ICS分类:71.040.99
- 发布日期:2021-12-31
- 实施日期:2022-07-01
- 代替标准:代替GB/T 20724-2006
- 技术归口:全国微束分析标准化技术委员会
- 发布部门:国家标准化管理委员会
- 标准分类:化工技术分析化学有关分析化学的其他标准
内容简介
国家标准《微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口,主管部门为国家标准化管理委员会。
本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本文件适用于测定线度为几十纳米至几百微米、厚度在几十纳米至几百纳米范围内的薄晶体试样厚度。
起草单位
北京科技大学、中国航发北京航空材料研究院、
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