GB/T 5594.3-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法平均线膨胀系数测试方法

标准详情：

GB/T 5594.3-1985

国家标准推荐性

中文名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法平均线膨胀系数测试方法
CCS分类：L32
ICS分类：
发布日期：1985-11-27
实施日期：1986-12-01
代替标准：被GB/T 5594.3-2015全部代替
技术归口：工业和信息化部（电子）
发布部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：

内容简介

国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法平均线膨胀系数测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准适用于测量室温至800℃各个阶段中电子元器件结构陶瓷的平均线膨胀系数。

起草单位

电子部12所、

起草人

相近标准

GB/T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第3部分：平均线膨胀系数测试方法
GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法
GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法气密性测试方法
QB/T 1321-1991 陶瓷材料平均线热膨胀系数测定方法
QB/T 1321-2012 陶瓷材料平均线热膨胀系数测定方法
GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法杨氏弹性模量、泊松比测试方法
GB/T 5594.6-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第6部分：化学稳定性测试方法
DB51/ 278.012-1998 玻璃仪器平均线热膨胀系数测试方法
GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第8部分：显微结构的测定方法
GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

本地下载

纠错