GB/T 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法

标准详情：

GB/T 5594.4-1985

国家标准推荐性

中文名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法
CCS分类：L32
ICS分类：
发布日期：1985-11-27
实施日期：1986-12-01
代替标准：被GB/T 5594.4-2015全部代替
技术归口：工业和信息化部（电子）
发布部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：

内容简介

国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准适用于测定电子元器件结构陶瓷材料在频率1MHz，温度从室温至500℃条件下的介质损耗角正切值。

起草单位

天津大学、

起草人

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