GB/T 8756-1988 锗晶体缺陷图谱
标准详情：
- 中文名称：锗晶体缺陷图谱
- CCS分类：H24
- ICS分类：77.040.30
- 发布日期：1988-02-25
- 实施日期：1989-02-01
- 代替标准：被GB/T 8756-2018全部代替
- 技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 发布部门：国家标准化管理委员会
- 标准分类：冶金金属材料试验金属材料化学分析
内容简介
国家标准《锗晶体缺陷图谱》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了锗多晶、锗单晶制备和机械加工工艺过程中所产生的各类缺陷的形貌。 本标准适用于锗多晶、锗单晶、锗研磨片和抛光镜片的生产和研究。锗二极管、晶体管和红外窗口的制造亦可参照使用。
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