GB/T 14140.2-1993 硅片直径测量方法千分尺法

标准详情：

GB/T 14140.2-1993

国家标准推荐性

中文名称：硅片直径测量方法千分尺法
CCS分类：H21
ICS分类：77.040.01
发布日期：1993-02-06
实施日期：1993-10-01
代替标准：被GB/T 14140-2009全部代替
技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
发布部门：国家标准化管理委员会
标准分类：冶金金属材料试验金属材料试验综合

内容简介

国家标准《硅片直径测量方法千分尺法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。

起草单位

洛阳单晶硅厂、

起草人

相近标准

GB/T 14140-2009 硅片直径测量方法
20221951-T-339 汽车及汽车列车最小转弯直径转弯通道圆直径和外摆值测量方法
20210892-T-469 硅片流动图形缺陷的检测腐蚀法
GB/T 12540-2009 汽车最小转弯直径、最小转弯通道圆直径和外摆值测量方法
DB15/T 883-2015 平均纤维直径及纤维直径分布测定方法赛罗兰（sirolan)-激光扫描纤维直径分析仪法
GB/T 11073-2007 硅片径向电阻率变化的测量方法
GB/T 26826-2011 碳纳米管直径的测量方法
20211772-T-604 螺纹千分尺
GB/T 29505-2013 硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法
20211771-T-604 奇数沟千分尺

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

本地下载

纠错