GB/T 5201-1994 带电粒子半导体探测器测试方法
标准详情：
- 中文名称：带电粒子半导体探测器测试方法
- CCS分类：F80
- ICS分类：17.240
- 发布日期：1994-12-22
- 实施日期：1995-10-01
- 代替标准：被GB/T 5201-2012全部代替
- 技术归口：全国核仪器仪表标准化技术委员会
- 发布部门：国家标准化管理委员会
- 标准分类：计量学和测量、物理现象辐射测量
内容简介
国家标准《带电粒子半导体探测器测试方法》由TC30（全国核仪器仪表标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了带电粒子半导体探测器电特性和核辐射性能的测试方法以及某些特殊环境的试验方法。 本标准适用于探测带电粒子的部分耗尽金硅面垒型、锂漂移金硅面垒型和表面钝化离子注入平面硅型等半导体探测器。
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