GB/T 15615-1995 硅片抗弯强度测试方法
标准详情：
GB/T 15615-1995
国家标准推荐性废止
- 中文名称：硅片抗弯强度测试方法
- CCS分类：H23
- ICS分类：77.040.01
- 发布日期：1995-07-12
- 实施日期：1996-02-01
- 代替标准：
- 技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 发布部门：国家标准化管理委员会
- 标准分类：冶金金属材料试验金属材料试验综合
内容简介
国家标准《硅片抗弯强度测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
相近标准
20204891-T-469 硅片表面光泽度的测试方法
GB/T 6619-2009 硅片弯曲度测试方法
GB/T 6621-2009 硅片表面平整度测试方法
SJ/T 11630-2016 太阳能电池用硅片几何尺寸测试方法
SJ/T 11631-2016 太阳能电池用硅片外观缺陷测试方法
GB/T 26067-2010 硅片切口尺寸测试方法
SJ/T 11632-2016 太阳能电池用硅片微裂纹缺陷的测试方法
SJ/T 11627-2016 太阳能电池用硅片电阻率在线测试方法
GB/T 6618-2009 硅片厚度和总厚度变化测试方法
SJ/T 11628-2016 太阳能电池用硅片尺寸及电学表征在线测试方法
* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。
- 标准质量：
下载说明
- ① 欢迎分享本站未收录或质量优于本站的标准，期待。
② 仅供网友学习交流，若侵犯了您的权益，请联系我们予以删除。