GB/T 4377-1996 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理
标准详情：
- 中文名称：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理
- CCS分类：L56
- ICS分类：31.200
- 发布日期：1996-07-09
- 实施日期：1997-01-01
- 代替标准：代替GB 4377-1984被GB/T 4377-2018全部代替
- 技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
- 发布部门：工业和信息化部（电子）
- 标准分类：电子学集成电路、微电子学
内容简介
国家标准《半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准规定了半导体集成电路电压调整器（以下简称器件）电特性测试方法的基本原理。 本标准适用于半导体集成电路电压调整器电特性的测试，不适用于双端（单端口）器件。
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