GB/T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法
标准详情：
- 中文名称：非本征半导体材料导电类型测试方法
- CCS分类：H21
- ICS分类：77.040.01
- 发布日期：1997-06-03
- 实施日期：1997-12-01
- 代替标准：代替GB 5256-1985,GB 1550-1979被GB/T 1550-2018全部代替
- 技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 发布部门：国家标准化管理委员会
- 标准分类：冶金金属材料试验金属材料试验综合
内容简介
国家标准《非本征半导体材料导电类型测试方法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了非本征半导体材料导电类型的测试方法。 本标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得的可靠结果，对于非均匀试样，可在其表面上测出不同导电类型区域。 本标准方法不适用于分层结构试样，如外延片的导电类型的测定。
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