GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
标准详情：
- 中文名称：硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
- CCS分类：H21
- ICS分类：77.040.01
- 发布日期：1997-06-03
- 实施日期：1997-12-01
- 代替标准：被GB/T 1553-2009全部代替
- 技术归口：全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 发布部门：国家标准化管理委员会
- 标准分类：冶金金属材料试验金属材料试验综合
内容简介
国家标准《硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
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