GB/T 17444-1998 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范

内容简介

国家标准《红外焦平面阵列特性参数测试技术规范》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准所指的焦平面，是敏感红外辐照（以下简称辐照）的光敏元阵列并带有读出电路的器件。 本标准对焦平面特性参数及相关量进行了定义。 本标准给出了焦平面主要特性参数的测试方法及测试条件。 本标准适用于线列和面阵焦平面。

起草单位

中国科学院上海技术物理研究所、

起草人

相近标准

GB/T 17444-2013 红外焦平面阵列参数测试方法
DL/T 2554—2022 接地装置短路暂态特性参数测试导则
DL/T 266-2012 接地装置冲击特性参数测试导则
GB/T 13584-2011 红外探测器参数测试方法
SY/T 5585.1-1993 地震数传电缆电参数测试方法特性阻抗和传播时间测试 特性抗阻和传播时间测试
GB/T 30110-2013 空间红外探测器碲镉汞外延材料参数测试方法
SY/T 5585.3-1993 地震数传电缆电参数测试方法特性阻抗和传播时间测试 串音衰减测试
SY/T 5585.2-1993 地震数传电缆电参数测试方法特性阻抗和传播时间测试 工作衰减测试
GB/T 18497.1-2019 工业加热用电红外发射器的特性 第1部分:短波电红外发射器
GB/T 18497.2-2019 工业加热用电红外发射器的特性 第2部分:中长波电红外发射器