GB/T 17473.6-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法分辨率测定

标准详情：

GB/T 17473.6-1998

国家标准推荐性

中文名称：厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法分辨率测定
CCS分类：H23
ICS分类：77.040.01
发布日期：1998-08-19
实施日期：1999-03-01
代替标准：被GB/T 17473.6-2008全部代替
技术归口：全国有色金属标准化技术委员会
发布部门：中国有色金属工业协会
标准分类：冶金金属材料试验金属材料试验综合

内容简介

国家标准《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法分辨率测定》由TC243（全国有色金属标准化技术委员会）归口，主管部门为中国有色金属工业协会。

起草单位

昆明贵金属研究所、

起草人

相近标准

GB/T 17473.6-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法分辨率测定
GB/T 17473.5-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法粘度测定
GB/T 17473.2-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定
GB/T 17473.4-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法附着力测定
GB/T 17473.3-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法方阻测定
GB/T 17473.1-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法固体含量测定
GB/T 17472-2022 微电子技术用贵金属浆料规范
GB/T 17473.7-2022 微电子技术用贵金属浆料测试方法第7部分：可焊性、耐焊性测定
SJ/T 10454-1993 厚膜混和集成电路多层布线用介质浆料
SJ/T 10455-1993 厚膜混合集成电路用铜导体浆料

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

本地下载

纠错