GB/T 17473.4-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定

标准详情:

GB/T 17473.4-1998

国家标准推荐性
  • 中文名称:厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定
  • CCS分类:H22
    ICS分类:77.040.01
  • 发布日期:1998-08-19
    实施日期:1999-03-01
  • 代替标准:被GB/T 17473.4-2008全部代替
  • 技术归口:全国有色金属标准化技术委员会
    发布部门:中国有色金属工业协会
  • 标准分类:冶金金属材料试验金属材料试验综合

内容简介

国家标准《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定》由TC243(全国有色金属标准化技术委员会)归口,主管部门为中国有色金属工业协会。

起草单位

昆明贵金属研究所、

起草人

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