GB/T 25184-2010 X射线光电子能谱仪检定方法

标准详情:

GB/T 25184-2010

国家标准推荐性
  • 中文名称:X射线光电子能谱仪检定方法
  • CCS分类:G04
    ICS分类:71.040.40
  • 发布日期:2010-09-26
    实施日期:2011-08-01
  • 代替标准:
  • 技术归口:全国微束分析标准化技术委员会
    发布部门:国家标准化管理委员会
  • 标准分类:化工技术分析化学化学分析

内容简介

国家标准《X射线光电子能谱仪检定方法》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口,主管部门为国家标准化管理委员会。
u3000u3000本标准规定了X射线光电子能谱仪的检定方法。本标准适用于使用非单色化Al或Mg X射线或单色化Al X射线,且带有溅射清洁用离子枪的X射线光电子能谱仪的检定。

起草单位

福建光电有限公司、厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室、

起草人

王水菊、时海燕、丁训民、

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