GB/T 28632-2012 表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定
标准详情:
GB/T 28632-2012
国家标准推荐性现行
- 中文名称:表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定
- CCS分类:G04
- ICS分类:71.040.40
- 发布日期:2012-07-31
- 实施日期:2013-02-01
- 代替标准:
- 技术归口:全国微束分析标准化技术委员会
- 发布部门:国家标准化管理委员会
- 标准分类:化工技术分析化学化学分析
内容简介
国家标准《表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 横向分辨率测定》由TC38(全国微束分析标准化技术委员会)归口,TC38SC2(全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了三种条件下测量俄歇电子能谱仪和X射线光电子能谱仪横向分辨率的方法。直边法适用于横向分辨率预期值大于1μm的仪器。栅格法适合于横向分辨率预期值大于20nm,小于1μm的仪器。金岛法则适用于横向分辨率预期值小于50nm的仪器。附录A、附录B和附录C给出了测量横向分辨率的带图的实例。
起草单位
上海市计量测试技术研究院、纳米技术及应用国家工程研究中心、
起草人
徐建、陆敏、辛立辉、何丹农、吴立敏、朱丽娜、张冰、
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