GB/Z 32490-2016 表面化学分析 X射线光电子能谱确定本底的程序

标准详情：

GB/Z 32490-2016

国家标准指导性技术文件

中文名称：表面化学分析 X射线光电子能谱确定本底的程序
CCS分类：G04
ICS分类：71.040.40
发布日期：2016-02-24
实施日期：2017-01-01
代替标准：
技术归口：全国微束分析标准化技术委员会
发布部门：国家标准化管理委员会
标准分类：化工技术分析化学化学分析

内容简介

国家标准《表面化学分析 X射线光电子能谱确定本底的程序》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，TC38SC2（全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。
本指导性技术文件给出了确定X射线光电子能谱中本底的指南。本指导性技术文件适用于固体表面X射线激发的光电子和俄歇电子能谱的本底确定。

起草单位

清华大学、中山大学、

起草人

李展平、陈建、曹立礼、朱永法、姚文清、谢方艳、

相近标准

GB/T 22571-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱仪能量标尺的校准
GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱薄膜分析结果的报告
GB/T 33502-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱（XPS）数据记录与报告的规范要求
GB/T 28892-2012 表面化学分析 X射线光电子能谱选择仪器性能参数的表述
GB/T 30704-2014 表面化学分析 X射线光电子能谱分析指南
GB/T 41073-2021 表面化学分析电子能谱 X射线光电子能谱峰拟合报告的基本要求
GB/T 28633-2012 表面化学分析 X射线光电子能谱强度标的重复性和一致性
20214940-T-469 表面化学分析 x 射线光电子能谱选择仪器性能参数的表述
GB/T 25185-2010 表面化学分析 X射线光电子能谱 - 荷电控制和荷电校正方法的报告
GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪强度标的线性

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

本地下载

纠错