GB/T 5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
标准详情：
- 中文名称：锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
- CCS分类：H17
- ICS分类：77.040.01
- 发布日期：2006-07-18
- 实施日期：2006-11-01
- 代替标准：代替GB/T 5252-1985被GB/T 5252-2020全部代替
- 技术归口：中国有色金属工业协会
- 发布部门：中国有色金属工业协会
- 标准分类：冶金金属材料试验金属材料试验综合
内容简介
国家标准《锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法》由610（中国有色金属工业协会）归口，主管部门为中国有色金属工业协会。
本标准适用于位错密度0cm-2～100 0000cm-2的n型和p型锗单晶棒或片的位错密度或其他缺陷的测量．观察面为(111)(100)(113)面。
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