GB/T 20726-2006 半导体探测器X射线能谱仪通则

标准详情：

GB/T 20726-2006

国家标准推荐性

中文名称：半导体探测器X射线能谱仪通则
CCS分类：N53
ICS分类：71.040.99
发布日期：2006-12-25
实施日期：2007-08-01
代替标准：被GB/T 20726-2015全部代替
技术归口：全国微束分析标准化技术委员会
发布部门：国家标准化管理委员会
标准分类：化工技术分析化学有关分析化学的其他标准

内容简介

国家标准《半导体探测器X射线能谱仪通则》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。
本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪（EDS）特性最重要的量值。本标准仅适用于国态电离作用原理的半导体探测器EDS。本标准只规定了与电子探针（EPMA）或扫描电镜（SEM）联用的此类EDS的最低要求，至于如何实现分析则不在本标准的规定范围之内。

起草单位

中国科学院地质与地球物理研究所、

起草人

曾荣树、徐文东、马玉光、范逛、

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