GB/T 19248-2003 封装引线电阻测试方法

标准详情：

GB/T 19248-2003

国家标准推荐性

中文名称：封装引线电阻测试方法
CCS分类：L55
ICS分类：31.200
发布日期：2003-07-02
实施日期：2003-10-01
代替标准：
技术归口：全国半导体器件标准化技术委员会
发布部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学集成电路、微电子学

内容简介

国家标准《封装引线电阻测试方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
本标准规定了测量封装引线电阻的方法。本标准适用于针栅阵列封装(PGA)引线电阻的测试。该测试技术也适用于其他微电子封装如无引线片式载体(LCC)、四边引线扁平封装(QFP)和陶瓷双列封装(CDIP)等引线电阻的测试。

起草单位

起草人

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