GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法

标准详情:

GB/T 5594.4-2015

国家标准推荐性
  • 中文名称:电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法
  • CCS分类:L90
    ICS分类:31-030
  • 发布日期:2015-05-15
    实施日期:2016-01-01
  • 代替标准:代替GB/T 5594.4-1985
  • 技术归口:工业和信息化部(电子)
    发布部门:工业和信息化部(电子)
  • 标准分类:电子学电子技术专用材料

内容简介

国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法》由339-1(工业和信息化部(电子))归口,主管部门为工业和信息化部(电子)。
GB/T5594的本部分规定了装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料介电常数和介质损耗角正切值的测试方法。本部分适用于装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料在频率为1MH,温度从室温至500°C条件下的介电常数和介质损耗角正切值的测试。

起草单位

中国电子科技集团公司第十二研究所、北京七星飞行电子有限公司、中国电子技术标准化研究院、

起草人

曾桂生、李晓英、薛晓梅、

相近标准

SJ/T 1147-1993 电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电常数试验方法
GB/T 1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
20201529-T-339 微波频段覆铜箔层压板相对介电常数和损耗正切值测试方法-分离介质谐振器法
GB/T 11297.9-2015 热释电材料介质损耗角正切tanδ的测试方法
GB/T 5594.6-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第6部分:化学稳定性测试方法
GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构的测定方法
GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 体积电阻率测试方法
GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 气密性测试方法
GB/T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第3部分:平均线膨胀系数测试方法
GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法

* 特别声明:资源收集自网络或用户上传,版权归原作者所有,如侵犯您的权益,请联系我们处理。

「在线纠错」

「相关推荐」