GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法

标准详情：

GB/T 5594.4-2015

国家标准推荐性

中文名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法
CCS分类：L90
ICS分类：31-030
发布日期：2015-05-15
实施日期：2016-01-01
代替标准：代替GB/T 5594.4-1985
技术归口：工业和信息化部（电子）
发布部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学电子技术专用材料

内容简介

国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
GB/T5594的本部分规定了装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料介电常数和介质损耗角正切值的测试方法。本部分适用于装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料在频率为1MH，温度从室温至500°C条件下的介电常数和介质损耗角正切值的测试。

起草单位

中国电子科技集团公司第十二研究所、北京七星飞行电子有限公司、中国电子技术标准化研究院、

起草人

曾桂生、李晓英、薛晓梅、

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