GB/T 5594.8-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第8部分：显微结构的测定方法

标准详情：

GB/T 5594.8-2015

国家标准推荐性

中文名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第8部分：显微结构的测定方法
CCS分类：L90
ICS分类：31-030
发布日期：2015-05-15
实施日期：2016-01-01
代替标准：代替GB/T 5594.8-1985
技术归口：工业和信息化部（电子）
发布部门：工业和信息化部（电子）
标准分类：电子学电子技术专用材料

内容简介

国家标准《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第8部分：显微结构的测定方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。
GB/T 5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定方法。本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。

起草单位

中国电子科技集团公司第十二研究所、江苏常熟银洋陶瓷器件有限公司、中国电子技术标准化研究院、

起草人

江树儒、曹易、高永泉、翟文斌、

相近标准

GB/T 5594.7-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第7部分：透液性测定方法
GB/T 5594.6-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第6部分：化学稳定性测试方法
GB/T 5594.5-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法
GB/T 5594.1-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法气密性测试方法
GB/T 5594.4-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第4部分：介电常数和介质损耗角正切值的测试方法
GB/T 5594.3-2015 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第3部分：平均线膨胀系数测试方法
GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法杨氏弹性模量、泊松比测试方法
YB/T 6045-2022 炭素材料显微结构测定方法
YS/T 617.8-2007 铝、镁及其合金粉理化性能测定方法第8部分: 松装密度的测定
GB/T 11320-1989 压电陶瓷材料性能测试方法低机械品质因数压电陶瓷材料性能的测试

* 特别声明：资源收集自网络或用户上传，版权归原作者所有，如侵犯您的权益，请联系我们处理。

本地下载

纠错